SR540光學(xué)斬波器
斬波頻率穩(wěn)定，精度高，是現(xiàn)代進(jìn)行調(diào)制光學(xué)測量的bi備部件，主要用于光纖放大器特性測量、光纖光柵傳感、光電子材料特性分析等研究從簡單的實驗到雙束和內(nèi)部調(diào)制測量。SR540 具有電壓控制輸入，四位數(shù)字頻率顯示，十段頻率控制，和兩種可選工作模式的參考輸出。4Hz—3.7kHz 斬波頻率，單光束和雙光束調(diào)制，低相位抖動，和頻與差頻參考信號輸入。

光學(xué)斬波器SR540 與鎖相放大器搭配起來使用，可組成一套光譜的微弱光信號檢測系統(tǒng)，也可以用在電學(xué)、磁學(xué)等方面測試中。

從簡單的實驗到雙束和內(nèi)部調(diào)制測量。SR540具有電壓控制輸入，四位數(shù)字頻率顯示，十段頻率控制，和兩種可選工作模式的參考輸出。4Hz—3.7kHz斬波頻率，單光束和雙光束調(diào)制，低相位抖動，和頻和差頻參考信號輸。

在SR540斬波器可處理所有的光學(xué)斬波要求，從簡單的測量，直到單雙光束和互調(diào)試驗。 SR540有4位數(shù)的頻率顯示，前面板進(jìn)行頻率控制，通過模擬電壓增減控制和兩個可選擇操作模式的參考輸出。參考輸出相應(yīng)的頻率提供給每個端口，及和差頻率。

應(yīng)用光學(xué)斬波器
單束實驗
    在此應(yīng)用中，單光束是由撥片的外孔斬波，并從右側(cè)參考輸出BNC接頭是用來鎖定鎖相放大器的參考頻率。 內(nèi)孔也可以使用，在這種情況下，左側(cè)BNC接頭將是參考輸出。 在這兩種情況下，參考模式開關(guān)在“向上"的位置。
雙束實驗
    在這種情況下，從單一源輸出并分成雙光束，內(nèi)外孔可將光束分成不同的兩個頻率。 單束光用作實驗而另一種是用來作為參考光束。 光束被重組并發(fā)到同一個探測器。 兩個鎖相放大器分別以不同的Finner和Fouter作為參考頻率進(jìn)行檢測。

產(chǎn)品規(guī)格： 

一般  
斬波頻率               4 Hz to 400 Hz (5/6 slot blade)
                               400 Hz to 3.7 kHz (25/30 slot blade) 
頻率穩(wěn)定度           250 ppm/°C (typ.) 
頻率漂移               <2 %, 100 Hz < f < 3700 Hz 
相位抖動(rms)      0.2° (50 Hz to 400 Hz)
                               0.5° (400 Hz to 3.7 kHz)
頻率顯示               4-digit, 1 Hz resolution and accuracy
頻率控制               10-turn pot with 3 ranges:
                               4 Hz to 40 Hz
                               40 Hz to 400 Hz
                               400 Hz to 3.7 kHz
輸入控制電壓       0 to 10 VDC for 0 to 100% of full scale.
參考模式               ? inner , ? outer , 5 × ? outer ,
                               ? inner  + ? outer , ? outer - ? inner
尺寸：   
控制器：               7.7" × 1.8" × 5.1" (WHL)
斬波器頭：           2.8" × 2.1" × 1.0" (WHL) 
葉片直徑：           4.04" ±0.002" 4.04“± 0.002" 
電纜長度：           6 ft. 
電源：                   12 W, 100/120/220/240 VAC, 50/60 Hz

保修：                   One year parts and labor on defects in materials and workmanship, 90 days on motor.

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